全反射X熒光HORIZON-北京利曼科技有限公司

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產品名稱： 全反射X熒光

產品型號： HORIZON
更新時間： 2022-12-01
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全反射X熒光分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角（接近于零度角）入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生，同時減小了載體的背景和噪聲，亦可減少樣品使用量。

詳細內容

　　如果n1>n2，則介質1相對于介質2為光密介質，介質2相對于介質1為光疏介質。對于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質。所以，如果介質1是空氣，那么α1>α2，即折射線會偏向界面。如果α1足夠小，并使α2=0，此時的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當α1<α臨界時，界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質1中，這就是全反射現象。

　　HORIZON 配備了12位樣品臺自動測量，創新光學編碼器的步進電機，角度測量，采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。廣泛應用在環境分析、制藥分析、法醫學、化學純度分析、油品分析、染料分析、半導體材料及核材料工業分析領域。

　　全反射X熒光光譜儀主要特點

　　1、單內標校正，有效簡化了定量分析，無基體影響；

　　2、對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析；

　　3、多元素實時分析，可進行痕量和超痕量分析；

　　4、不受樣品的類型和不同應用需求影響；

　　5、液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量小；

　　6、優良的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；

　　7、動態線性范圍；

　　8、無需任何化學前處理，無記憶效應；

　　9、非破壞性分析，運行成本低廉。

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全反射X熒光

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